Mitutoyo

Propuesta de solución de Mitutoyo

¿Está satisfecho con su microscopio de medición actual?

 - Microscopio de medición Serie MF-J

Los microscopios de medición son instrumentos invaluables para el control de calidad, ya que combinan facilidad de uso con alta exactitud. Sin embargo, un desafío común es que las lecturas de dimensiones de hasta 1/100 mm pueden variar según la técnica del operador. ¿Le preocupa este problema?

Proponemos un método de medición que minimiza estas variaciones y mantiene sus procesos de inspección actuales.

Factores que causan errores de medición

  • Variabilidad en las posiciones de alineación de la cruz causada por diferencias entre operadores

  • Variabilidad en las técnicas de enfoque entre distintos operadores.
  • Instalación inestable del objeto de medición cuando no se ajusta correctamente a la platina.

Voces de usuarios finales: lo que escuchamos

  • "Tenemos la necesidad de realizar mediciones en puntos imaginarios, como intersecciones o el centro de un círculo"
  • "Deseamos eliminar la introducción manual de los resultados de medición"
  • "Queremos la posibilidad de discutir puntos de medición de manera colaborativa mientras varias personas los visualizan simultáneamente"

Acciones para minimizar las variaciones en los puntos de medición

Obtener puntos de medición con una cruceta puede generar inconsistencias, como medir al final de una línea o en su centro, provocando variaciones según el operador.

Tres medidas clave pueden ayudar a resolver este problema:


  • Mejorar y estandarizar las habilidades de inspección mediante capacitación y procedimientos de trabajo definidos.
  • Optimizar la visibilidad de los bordes en los puntos de medición mediante iluminación adecuada.
  • Minimizar los errores individuales mediante la adquisición automática de datos a través de la función de medición de imágenes.

 

La función de medición de imágenes de Mitutoyo facilita la obtención de puntos de medición con alta exactitud, reduciendo significativamente las variaciones.
Para una mayor exactitud de medición, se recomienda la serie MF, que ofrece una exactitud cercana al grado JIS 0.

Contramedidas para el enfoque desigual

Las diferencias en la apariencia de los bordes causadas por un enfoque inconsistente pueden generar errores de medición. Dado que el enfoque suele ser subjetivo, las variaciones entre operadores son inevitables.

Dos contramedidas principales son:

  • Aumentar el aumento del objetivo para reducir el intervalo de enfoque.
  • Utilizar la función de autoenfoque (AF) para mantener un enfoque consistente.

Acciones para prevenir errores causados por una colocación inadecuada de los objetos de medición

Cuando un objeto de medición no encaja correctamente en la platina, su fijación se vuelve inestable, lo que puede generar errores de medición.

Dos medidas clave para solucionar este problema son:

  • Revisar el objeto antes del ensamble y ajustarlo a un tamaño que se adecúe a la platina.
  • Sustituir el sistema actual por un microscopio de medición con una platina más grande.

Mitutoyo ofrece una amplia gama de microscopios diseñados para acomodar objetos más grandes sin necesidad de cortarlos:

  • Dirección XY: hasta 400 x 200 mm
  • Dirección Z: hasta 220 mm

Voces de usuarios finales: lo que escuchamos

La medición uniaxial con un contador presenta limitaciones inherentes.

Dos medidas principales pueden ayudar a superar este problema:

  • Instalar una unidad de cálculo compacta.
  • Instalar un procesador de computadora personal.

El procesador de computadora personal de Mitutoyo satisface una amplia gama de necesidades:

  • Permite mediciones oblicuas, eliminando la necesidad de trabajos paralelos complicados.
  • Admite diversos patrones de medición, incluidos aquellos que utilizan puntos y ángulos virtuales.
  • Elimina la necesidad de introducción manual de datos, facilitando la creación fluida de informes de inspección.
  • Proporciona procedimientos de medición guiados, garantizando facilidad de uso incluso con numerosos puntos de medición.

¿Tiene un reto de medición? Estamos aquí para ayudarlo, contáctenos cuando lo necesite

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