Propuesta de solución de Mitutoyo
Dispositivos electrónicos: ¿Puede evaluar patrones finos con exactitud?
- Sistema de medición 3D sin contacto Hyper Quick Vision serie WLI
Propuesta de solución de Mitutoyo
Dispositivos electrónicos: ¿Puede evaluar patrones finos con exactitud?
- Sistema de medición 3D sin contacto Hyper Quick Vision serie WLI
La demanda de dispositivos electrónicos y semiconductores continúa en aumento, impulsada por la IoT, el CASE automotriz y las comunicaciones 5G. Esto genera una necesidad creciente de mediciones dimensionales con alta exactitud para garantizar una mayor confiabilidad.
En la tecnología de empaquetado 3D —que gana relevancia con el adelgazamiento de los semiconductores— la medición dimensional con alta exactitud es fundamental para evaluar la exactitud del posicionamiento del montador y la desalineación del RDL.
El sistema de medición 3D sin contacto Hyper Quick Vision WLI emplea tecnología de interferometría de luz blanca para medir con gran exactitud el cableado y las vías de pequeño diámetro, cada vez más delgadas en aplicaciones 3D.
Minimizar los errores del operador causados por cambios de configuración
Desafíos:
La medición manual genera errores debido a la repetición de patrones y la identificación incorrecta de los puntos de evaluación
Aplicaciones

La máquina también permite medir patrones L&S con alta relación de aspecto, vías de pequeño diámetro y el incremento exacto en la deposición de películas delgadas.
Buscando la transición de la inspección manual a la automatizada

Mecanismo de doble cabezal para medición por imagen e interferometría de luz blanca.
Las máquinas de medición que carecen de un sistema de coordenadas tienen dificultades para localizar con exactitud los puntos de medición

Orientación sencilla del punto de medición gracias al “Mecanismo de doble cabezal”
¿Tiene un reto de medición? Estamos aquí para ayudarlo, contáctenos cuando lo necesite
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